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          超高分辨率分析掃描電子顯微鏡 SU-70

          超高分辨率分析掃描電子顯微鏡 SU-70

          • 所屬分類:掃描電子顯微鏡(場發射)

          • 點擊次數:
          • 發布日期:2017/11/03
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          詳細介紹

          SU-70電子顯微鏡是一種新概念掃描電子顯微鏡,它采用了日立經過實地驗證的 "semi-in-lens"超高分辨率技術以及肖特基熱場發射電子槍技術。除了具有超高分辨率(1.0 nm/15 kV,1.6 nm*/1 kV)的特點外,它還借助聲名遠播的SuperExB功能可觀察減輕荷電圖像,成分構成對比圖像,超低加速電壓圖像*。肖特基場發射電子槍的探針電流為100 nA,可進行各種各樣的分析操作(X 射線能譜儀*, X射線波譜儀*,電子背散射衍射系統*等)。

          相關標簽:日立電子顯微鏡

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