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          能譜儀器X-Max Extreme

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          能譜儀器X-Max Extreme

          • 所屬分類:能譜儀器

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          • 發布日期:2017/11/03
          • 在線詢價
          詳細介紹

           X-Max Extreme全新硅漂移探測器是能譜探測器領域的又一突破,為超高分辨率FEG-SEM的應用及超越常規的微米和納米尺度分析提供了全新的解決方案。X-Max Extreme是100mm2無窗版本的X-Max,可顯著地提高靈敏度和空間分辨率。 它采用了優化的徑向幾何設計,可實現在超高分辨場發射掃描電鏡的低電壓及小工作距離條件下同時采集圖像和能譜。X-Max Extreme可實現能譜的分辨率達到相應掃描電鏡的分辨率。
          SEM-EDS超高空間分辨率
          FEG-SEM中優于10nm的元素表征
          材料表面表征靈敏度高
          SEM中表征材料表面
          超低電壓下進行材料鑒定
          低至1千伏材料表征
          最快、最準確的納米尺度表征
          快速采集并實時數據處理大塊樣品
          極致的輕元素靈敏度
          鋰、氮和氧等輕元素的檢測提高至新水平
          技術背景Open樣本下載Open終極掃描電鏡能譜空間分辨率Open表面科學的靈敏性Open低電壓材料辨別Open快速、準確的納米表征Open輕元素極高靈敏性——包括 .鋰Open


          能譜儀器

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          相關標簽:日立能譜儀

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