柯岷國際貿易(上海)有限公司
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不僅可在真空下,還可在大氣壓下進行SEM觀察
含水樣品也無需前處理即可直接觀察
特點:
含水樣品也無需前處理即可在大氣壓下進行SEM觀察
從低真空到大氣壓(數 Pa~105 Pa),可在大范圍壓力下進行SEM觀察
標準搭載ES-Corrector(電子束散射校正)圖像改善功能
在真空模式下,除了通常的SEM觀察之外,還可進行EDX分析(選配)
主機采用330 mm寬度的小型設計,實現節省空間和高便利性
無需等待抽真空時間,快速實現從搭載樣品到觀察圖像的全過程
概要
大氣壓觀察(圖1)
樣品設置在標準大氣壓環境下(105 Pa)
配置樣品的大氣壓倉室與SEM內部由隔膜分離,在保持SEM內部真空的同時,可對樣品進行電子束照射觀察
而且,可通過附帶的真空泵在負壓下(約103~105 Pa)進行觀察
低真空觀察(圖2)
隔膜可拆卸,還可進行低真空SEM觀察和EDX分析
搭載了日立臺式顯微鏡TM系列中廣為采用的高靈敏度半導體背散射電子檢測器
規格: