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          FIB-SEM三束系統 NX2000

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          FIB-SEM三束系統 NX2000

          • 所屬分類:FIB

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          • 發布日期:2017/11/03
          • 在線詢價
          詳細介紹

          追求最完美的TEM樣品制備工具


          在尖端設備及高性能納米材料的評價和分析領域,FIB-SEM已成為不可或缺的工具。

          近來,目標觀察物更趨微細化;更薄,更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。

          日立高新公司,整合了高性能FIB技術和高分辨SEM技術,再加上加工方向控制技術以及Triple Beam?*1(選配)技術,推出了新一代產品NX2000

          特點:

          特點

          規格:

          規格

          相關標簽:日立掃描式電子顯微鏡(SEM),日立電子顯微鏡SU8000系列價格,日立電子顯微鏡SU8000系列批發

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