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電子顯微鏡都要哪些不同類型電子顯微鏡按結構和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。日立電子顯微鏡透射式電子顯微鏡常用于觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細微物質結構；掃描式電子顯微鏡主要用于觀察固
發布時間：2016-07-27 點擊次數：57
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FIB聚焦離子束的工作原理液態金屬離子源離子源是聚焦離子束系統的心臟，真正的聚焦離子束始于液態金屬離子源的出現，液態金屬離子源產生的離子具有高亮度、極小的源尺寸等一系列優點，使之成為目前所有聚焦離子束系統的離子源。液態金屬離子源是利用液態金
發布時間：2016-07-27 點擊次數：110
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FIB聚焦離子束投影曝光技術的優點聚焦離子束投影曝光除了前面已經提到的曝光靈敏度極高和沒有鄰近效應之外還包括焦深大于曝光深度可以控制。離子源發射的離子束具有非常好的平行性，離子束投影透鏡的數值孔徑只有0.001，其焦深可達100μm，也就是
發布時間：2016-07-27 點擊次數：84
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掃描電子顯微鏡在新型陶瓷材料顯微分析中的應用1 掃描電鏡顯微結構的分析在陶瓷的制備過程中，原始材料及其制品的顯微形貌、孔隙大小、晶界和團聚程度等將決定其最后的性能。掃描電子顯微鏡可以清楚地反映和記錄這些微觀特征，是觀察分析樣品微觀結構方便、
發布時間：2016-07-27 點擊次數：47
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日立電子顯微鏡的組成離子濺射儀電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。鏡筒主要有電子源、電子透鏡、樣品架、熒光屏和探測器等部件，這些部件通常是自上而下地裝配成一個柱體。電子透鏡用來聚焦電子，是電子顯微鏡鏡筒中最重要的部件。一般使用的是
發布時間：2016-07-27 點擊次數：71
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FIB聚焦離子束的應用FIB技術的在芯片設計及加工過程中的應用介紹：1.IC芯片電路修改用FIB對芯片電路進行物理修改可使芯片設計者對芯片問題處作針對性的測試,以便更快更準確的驗證設計方案。若芯片部份區域有問題,可通過FIB對此區域隔離或
發布時間：2016-07-27 點擊次數：128
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FIB聚焦離子束曝光技術聚焦離子束也可以像電子束那樣作為一種曝光手段。離子束曝光有非常高的靈敏度，這主要是因為在固體材料中的能量轉移的效率遠遠高于電子。常用的電子束曝光抗蝕劑對離子的靈敏度要比對電子束高100倍以上。除了靈敏度高之外，離子束
發布時間：2016-07-27 點擊次數：103
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電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。日立電子顯微鏡鏡筒主要有電子源、電子透鏡、樣品架、熒光屏和探測器等部件，這些部件通常是自上而下地裝配成一個柱體。電子透鏡用來聚焦電子，是電子顯微鏡鏡筒中最重要的部件。一般使用的是磁透鏡，有時也有
發布時間：2016-07-27 點擊次數：60
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日立電子顯微鏡的發展歷史1926年漢斯·布什研制了第一個磁力電子透鏡。1931年厄恩斯特·盧斯卡和馬克斯·克諾爾研制了第一臺透視電子顯微鏡。展示這臺顯微鏡時使用的還不是透視的樣本，而是一個金屬格。1986年盧斯卡為此獲得諾貝爾物理獎。世界第
發布時間：2016-07-27 點擊次數：104
