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          日立S-4800掃描電子顯微鏡X射線能譜儀

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          日立S-4800掃描電子顯微鏡X射線能譜儀

          發布日期:2017-11-02 作者: 點擊:

          日立電子顯微鏡S-4800X射線能譜儀

          一、技術參數:

              二次電子分辨率:1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV)

              背散射電子分辨率:3.0 nm(15 kV)

              電子槍:冷場發射電子源

              加速電壓:0.5~30 kV(0.1 kV/步,可變)

              放大倍率:×30 ~ ×800,000。

              X射線能譜儀的元素分析范圍為Be4~U92。

          二、主要特點:

              S-4800型高分辨場發射掃描電鏡(簡稱S-4800)為日本日立公司于2002年推出的產品。該電鏡的電子發射源為冷場,物鏡為半浸沒式。在高加速電壓(15kV)下,S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm,這是目前半浸沒式冷場發射掃描電鏡所能達到的最高水平。該電鏡在低加速電壓(1kV)下的二次電子圖像分辨率為2nm,這有利于觀察絕緣或導電性差的樣品。S-4800的主要附件為X射線能譜儀。利用S-4800和X射線能譜儀可以在觀察樣品表面微觀形貌的同時進行微區成分定性和定量以及元素分布分析。此次所購X射線能譜儀的元素分析范圍為Be4~U92,從而可以分析輕元素。由于S-4800不能在低真空條件下工作,因此不適合直接觀察含水和含油樣品。

          三、應用領域

               用于觀察材料表面的微細形貌、斷口及內部組織,并對材料表面微區成分進行定性和定量分析,主要用途如下:

          ? 金屬、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、礦物、纖維等無機或有機固體材料的斷口、表面形貌、變形層等的觀察;

          ? 材料的相分布和夾雜物形態成分的鑒定;

          ? 金屬鍍層厚度及各種固體材料膜層厚度的測定;

          ? 納米材料及其它無機或有機固體材料的粒度觀察和分析 ;

          ? 進行材料表面微區成分的定性和定量分析。柯岷國際貿易

          日立電子顯微鏡


          本文網址:http://www.charlesbivona.com/news/225.html

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